Title: Beam emittance measurement of a polarized ion source
Authors: Naqvi A A
Huttel E
Issue Date: 1995
Citation: Beam emittance measurement of a polarized ion source A A Naqvi and E HuttelThe Arabian journal for science and engineering المجلة العربية للعلوم والهندسة Univeristy of Petroleum and MineralsVol 20 no 3 (July 1995) p p 561569Naqvi A AHuttel E
Abstract: The emittance of the polarized deuteron beam of the KFUPM polarized ion source has been measured using a singleslit and singlewire scanner set up The measurement was carried out after the spin processor section of the polarized source The emittance of 90 % of the polarized deuteron beam of the KFUPM source was measured to lie within 1500 mm mrad at 12 ke V extraction voltage of the source This value is 50 % larger than that of a similar source at zyklotron laboratory kem for schungzentrum Karlsruhe Germany Since the emittance of an atomic beam polarized ion source strongly depends upon the setting of the ionizer the difference in the beam emittance of the KFUPM source and the Karlsruhe source may be due to different settings of the ionizer of the two polarized ion sources
لقد تم قياس انبعاث الديترون المستقطب لمصدر الأيونات المستقطبة بجامعة الملك فهد للبترول والمعادن مستخدما الجهاز ذا الفتحة الواحدة والماسح ذا السلك الواحد ولقد تم هذا القياس بعد قطاع مبادرة اللف الذاتي لمصدر الأيونات المستقطبة وكانت نتائج القياس أن الانبعاث كان 90 % من شعاع الديوترون المستقطب ويقع عند 1500 مم مللي راديان عند جهد الاستخلاص للمصدر 12 كيلو إلكترون فولت وهذه القيمة هي أعلى بحوالي 50 % من النتائج المنشورة لمصدر أيوني مماثل (في مختبر أبحاث الفيزياء النووية بكارلسروا بألمانيا) وقد يعزى هذا الاختلاف إلى أن الانبعاث يعتمد بصورة قوية على كيفية وضع محول الأيونات، وأن وضع محول الأيونات مختلف في المختبرين في السعودية وألمانيا
URI: http://172.16.0.14/Dspace/handle/123456789/4800
Appears in Collections:English Articles

Files in This Item:

File Description SizeFormat
U05m01v20i03a10.pdf530.78 kBAdobe PDFView/Open
Number of visits :260
Number of Downloads :106
Login To Add Comment or Review

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.