Partial scan design based on simulated annealing for hardtodetect faults
Authors:
Rasheed H Ravikumar C P
Issue Date:
1994
Citation:
Partial scan design based on simulated annealing for hardtodetect faults C P Ravikumar H RasheedThe Arabian journal for science and engineering المجلة العربية للعلوم والهندسة Univeristy of Petroleum and MineralsVol 19 no 4B (October 1994) p p 845855Ravikumar C PRasheed H
Abstract:
In this paper we describe algorithms based on Simulated Annealing for selecting a subset of ip ops to be connected into a scan path The objective for selection is to maximize the coverage of faults that are aborted by a sequential fault simulator We pose the problem as a combinatorial optimization and present a heuristic algorithm based on Simulated Annealing The SCOAP testability measure is employed to assess the selection of ip ops during the course of optimization Our algorithms form a part of an integrated design package TOPS which has been designed as an enhancement to the OASIS standardcell design automation system available from MCNC We discuss the TOPS package and its performance on a number of ISCAS’89 benchmarks We also present a comparative evaluation of the circuit benchmarks يعرض هذا البحث خوارزميات مبنية على محاكاة التلدين لاختيار مجموعة جزئية من الرجراجات (FFS) يمكن توصيلها في مسار مسحي لتوفير أقصى حد ممكن من القدرة على اكتشاف الأخطاء التي قد لا تكتشف باستخدام نظام محاكاة الأخطاء بالتتابع ويطرح البحث المشكلة على أنها عملية تحديد أنسب توليفة ممكنة ويقدم لحلها خواريزميات تنقيبية مبنية على محاكاة التلدين وقد استخدم مقياس القابلية للاختيارSCOAP لتقويم اختيار الرجراجات أثناء عملية تحديد أنسب توليفة ممكنة وتشكل هذه الخوارزميات جزءا من رزمة تصميم متكاملة TOPS صممت لتعزيز نظام التصميم الآلي OASIS المتوفر من MCNC [MCN90] ويناقش البحث رزمة وأداءها من خلال بعض الدوائر القياسية المختارة من ISCAS'89 ويقدم تقييما مقارنا لها