Study of electronic and geometric properties of metal adsorbed surfaces of silicon by photoelectron spectroscopy and Xray photoelectron (auger electron)

Abstract

لمطيافية الانبعاث الإلكتروني المحلل (زاويا) تطبيقات عدة لدراسة سطوح الأجسام الصلبة فاختيار التحليل الزاوي للانبعاث الإلكتروني يساعد على تعيين تغيرات حالات السطح، وكذلك فإن اختبار التحليل الزاوي للانبعاث الإلكتروني من الأشعة السينية، أو إلكترونات أوجية Auger يساعدان على تحديد هندسية السطوح الذرية لقد طبقت هذه الطرق لدراسة إدمصاصية طبقة معدنية أحادية على سطوح سليكونية (111) وسليكون (001) وإن المعادن المدمصة هي الموجودة في الجدول الدوري تحت عمود I ،II ،III ،IV، أما الترتيب للسطوح المدروسة فإنه 3 × 3 على سليكون (111) و 2 × 1 على سليكون (001)

Angleresolved photoelectron spectroscopy has many applications to the studies of solid surfaces Angleresolved detection of ultraviolet photoelectrons makes it possible to determine the suface state dispersions Angleresolved detection of xray photoelectrons or Auger electrons makes it possible to determine surface atomic geometries These techniques have been applied to the study of submonolayer metal adsorptions on the Si(111) and Si(001) surfaces The adsorbed metals are column I III IV and V elements in the periodic table and surface orders studied are 3 × 3 on the Si(111) substrate and 2 × 1 on the Si(001) substrate respectively