Density of thin films of cadmium sulfide by nuclear backsattering
المؤلفون:
AlShukri A M Khawaja E E Durrani S M A
تاريخ النشر:
2000
الاستشهاد المرجعي :
Density of thin films of cadmium sulfide by nuclear backsattering S M A Durrani A M AlShukri and E E KhawajaThe Arabian journal for science and engineering section A sciences المجلة العربية للعلوم والهندسة Univeristy of Petroleum and MineralsVol 25 no 2A (July 2000) p p 8994Durrani S M AAlShukri A MKhawaja E E
الملخص:
عينت كثافة أغشية رقيقة من كبريتيد الكادميوم المحضرة بطريقة الترسيب البخاري باستخدام المضوائية الطيفية المدمجة مع استطارة رذفورد الارتدادية حصلنا على كثافة قدرها 095 ± 7 % من قيمة كثافة كبريتيد الكادميوم في الصورة العادية ولدى استخدام قانون لورنتسلورينز المبني على قياسات معامل انكسار الأغشية الرقيقة حصلنا على قيمة للكثافة قريبية من تلك المحصلة من النتائج التجريبية The density of thin vapordeposited films of cadmium sul de was determined by spectrophotometry combined with Rutherford backscattering spectrometry The density determined was 095 ± 7 % of the bluck value for the CdS The LorentzLorenz law based upon the measured data on the index of refraction of the films suggests a value of the density of the films close to the one obtained in the present work
