Structure determination by anglescannedXray photoelectron diffraction

Abstract

هذه المقالة تستعرض الطرق المختلفة لاستقصاء المعلومات عن الهيكل التركيبي بقياس حيود الإلكترونات المنبعثة كهروضوئيا باستخدام الأشعة السينية في الاتجاهات الزاوية ومن خلال ذكرنا لبعض التجارب الحديثة نورد بعض التطبيقات لأنواع من المشاكل في علوم السطوح كهندسة رابطات الجزئيات المستمزة (adsorbate)، والوضع النسبي للذرات المستمرة وذرات القاعدة، ونمو شبه طبقات مغطية عالية الرقة، والانتشار البيني، وتكرر بنية السطح، وكذلك الخواص الحرارية والمغناطيسية للسطوح النظيفة وفي العديد من الحالات تدل ذروة شدة التناثر المرتبطة بالتناثر الأمامي على اتجاه محور الرابط الكيميائي الرئيسي وهكذا فبمقارنة الشدة في المسح القطبي والسمتي في الاتجاهات الأقل تناظرا مع حسابات التناثر العنقودي، يصبح بالإمكان تحديد أطوال الروابط الكيميائية وباختيار فئات السطوح والاعتبارات التناظرية تحدد الاتجاهات الصحيحة للمسح الزاوي وإشارات الانبعاث الكهروضوئي التي يجب متباعتها

The various ways in which surface structural information can be obtained by measuring anglescanned Xray photoelectron diffraction from singlecrystal surfaces are reviewed By means of a few selected recent experiments we discuss applications to different classes of problems in surface science such as the bonding geometry of molecular adsorbates relative adsorbatesubstrate atom positions the growth of ultrathin pseudomorphic overlayers interdiffusion surface reconstruction and also thermal and magnetic properties of clean surfaces In many cases strong forwardscatteringrelated intensity maxima reveal the orientation of principal bond axes The comparison of intensity modulations in polar and azimuthal scans along lowersymmetry directions with scatteringcluster calculations permits the determination of bond lengths The particular class of surface system involved as well as symmetry arguments are decisive elements in the proper choice of scanning directions and of the specific photoemission signal to be monitored