Titre: Genetic algorithm based diode model parameters extraction استخلاص متغيرات نموذج الصمام الثنائي بواسطة الخوارزميات الجينية
Auteur(s): Al Mashary Bandar Abd Allah
Date de publication: 2005
Référence bibliographique: Genetic algorithm based diode model parameters extraction استخلاص متغيرات نموذج الصمام الثنائي بواسطة الخوارزميات الجينية Bandar A Al Masharyمجلة جامعة الملك سعود مجلة العلوم الهندسية عمادة شؤون المكتبات، جامعة الملك سعودVol 18 no 2 (1426 H 2005) p p 249260Al Mashary Bandar Abd Allah
Résumé: In this paper a geneticbased algorithm is proposed and implemented to extract diode circuit model parameters Saturation current ideality factor and series resistance are extracted without a need for initial conditions The proposed technique is found to be robust and capable to reach a solution that is characterized to be global and accurate Compared with existing conventional techniques the proposed one shows superior performance in terms of accuracy and being generic and applicable to extract parameters of other devices The proposed technique performance has been tested using theoretical data and used to extract real device parameters from its measured IV characteristics
في تلك الورقة تم تطوير طريقة جديدة لحساب واستنباط قيم متغيرات النموذج الرياضي المستخدم لوصف الصمام الثنائي (الدايود) في الدوائر الإلكترونية اعتمادا على الخوارزميات الجينية، حيث تم حساب قيم ثلاثة متغيرات أساسية وهي تيار التشبع، ومعامل المثالية، والمقاومة المتوالية، دون الحاجة إلى افتراض قيم ابتدائية لتلك المتغيرات، وقد أظهرت النتائج قدرة الطريقة المستخدمة على الوصول لنتائج عالية الدقة وبعيدة عن احتمال الخطأ الذي يصاحب عادة استخدام الطرق التقليدية الأخرى لقد أظهرت الطريقة المقترحة أفضلية في الأداء من حيث الدقة وسهولة استخدامها لاستخلاص متغيرات نبائط أخرى، ولقد تم اختبار الطريقة والتأكد من أدائها باستخدام بيانات نظرية وبيانات مقاسة معمليا لعلاقة التيار بالجهد
URI/URL: http://172.16.0.14/Dspace/handle/123456789/13820
Collection(s) :English Articles

Fichier(s) constituant ce document :

Fichier Description TailleFormat
U01M02V18I02A05.pdf119.39 kBAdobe PDFVoir/Ouvrir
Number of visits :239
Number of Downloads :80
Login To Add Comment or Review

Tous les documents dans DSpace sont protégés par copyright, avec tous droits réservés.